败血症与放电后死亡率的风险联系在一起

（健康日） - 根据1月25日在线发布的一项研究，余生幸存者在出院后的出院后的所有因果死亡率和主要不良心血管事件的风险大大增加。美国呼吸系统杂志CHINESS。

台湾台北荣民总医院的医学博士欧硕明和他的同事分析了从2000年到2002年全国人口数据库的数据来确定脓毒症患者。脓毒症幸存者倾向匹配(1比1)对照受试者从一般人群并控制受到非核糖诊断的受试者。

研究人员发现，败血症幸存者的所有原因死亡率风险较高（危险比[HR]，2.18），主要不利心血管事件(HR, 1.37)，缺血性卒中(HR, 1.27)，出血性卒中(HR, 1.36)，心肌梗死(HR, 1.22)，心力衰竭(HR, 1.48)，心源性猝死或室性心律失常(HR, 1.65)。当脓毒症幸存者与非脓毒症住院对照组进行比较时，也出现了类似的结果，尽管风险略低。

“这些数据表明，Sepsis幸存者的遗传性大幅增加了随后的全部原因的风险死亡率主要的心血管不良事件在出院后一年内持续到出院后5年，”作者写道。

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