高强度MRI可能对Amalgam牙科填充的人带来风险

根据在杂志上在线出现的新研究，暴露于超高强度MRI可能从牙齿的氨汞填充中释放有毒汞放射学。然而，在较低的强度下，没有看到效果，更常见的1.5-Tesla（t）MRI。

汞合金馅料，也称为银色馅料，多年来一直是牙科的主食。汞合金组成了大约50％的汞，一种已知的毒素，可导致人类患者有害影响。尽管存在汞，美国食品和药物管理局考虑了汞合金填充物的成年人和六岁以上的儿童安全。

“在完全硬化的汞合金中，在牙齿上大约48小时，汞变为化学结构，填充的表面覆盖着氧化膜层，”研究的牵引作者Selmi Yilmaz，博士说。，土耳其安塔利亚Akdeniz University的牙医和教师。“因此，任何汞泄漏都很短。”

以前的研究发现，暴露于MRI的磁场可能导致汞从Amalgam填充物中泄漏。通过临床中的超高强度7-T扫描仪最近的到来，这一担忧已经提高。7-T MRI的较强的磁场产生更多的解剖细节，但尚未研究其对氨基牙科填充物的影响。

要了解更多信息，伊利马斯博士和同事们，Mehmet Zahit Adi？en，ph.D.，在7-T和1.5-T MRI中从患者提取临床适应症的牙齿后从牙科汞合金中释放的汞。虽然7-T MRI于2017年被FDA批准，但它的可用性极为有限。低强度1.5-T MRI广泛可用，常用于患者考试。

研究人员在每颗牙齿中打开双面腔并涂抹汞合金填充物。在九天之后，将两组20组随机选择的牙齿置于人造唾液的溶液中，然后立即接触20分钟至1.5-T或7-T MRI。仅在人造唾液中置于人造唾液中的对照组。

当研究人员分析人造唾液时，7-T，1.5-T和对照组中的汞含量分别为0.67±0.18,0.17±0.06和0.14±0.15份（PPM）。在0.67ppm下，7-T组中的汞含量约为1.5-T组中的水平的四倍。控制组。

“在我们的研究中，我们发现超高场MRI后的汞值非常高，”Yilmaz博士说。“这可能是由汞杆材料的相变或通过形成微电路引起的，这导致由磁场引起的电化学腐蚀。”

基于环境保护局标准，在暴露于7-T MRI期间从汞合金填充物中释放的汞量将远远超过人民安全的水平。

“虽然目前尚不清楚这些释放的汞形式是多少，但研究调查结果表明，Amalgam填充物可能不仅对患者构成风险，而且对员工进行危险，而且对员工也是如此，”Yilmaz博士说。

伊利马斯博士补充说，进一步的研究可以评估高场MRI与释放之间的关系汞从牙髓汞合金。研究人员有三个持续的项目，专注于相位和温度变化牙科汞合金跨越不同的磁场。

在1.5-T组中发现没有发现有害影响的证据，患者阿马尔加填充物不应该过度关注拥有MRI考试。

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